熱釋電系數可用靜態(tài)法、動(dòng)態(tài)法和積分電荷法測試，其中積分電荷法得到廣泛應用。圖4.5-32為積分電荷法測試原理圖(GB/T3389.8-1986)。該方法通過(guò)測量在電容器上積累的熱釋電電荷，測定剩余極化隨溫度的變化。使用靜電計測得積分電容兩端電壓，輸出至函數記錄儀Y端，由于積分電容值遠大于試樣電容值，其兩端的電壓變化正比于試樣剩余極化的變化。同時(shí)，用X端記錄試樣溫度變化，可得到熱釋電電荷Q隨溫度T變化的曲線(xiàn)，微分該曲線(xiàn)，就可得到熱釋電系數

　　測試設備的加熱油槽由銅制成，外殼接地以屏蔽外來(lái)信號的干擾，內盛絕緣油，絕緣油應該浸沒(méi)試樣架和測溫熱電偶，外加保溫材料。熱電偶的工作溫度范圍為室溫至85℃，溫差電動(dòng)勢大者為宜。積分電容視試樣電容大小及熱釋電系數大小而定，一般為10μF。直流電阻不小于10⁹Ω。靜電計輸入阻抗不小于10¹⁰Ω。函數記錄儀的相對誤差小于或等于1%。整個(gè)系統放電時(shí)間常數不小于4×10³s，相對于采用10μF積分電容而言系統總電阻大于5×10⁸Ω。試樣要求全電極極化試樣，電阻R不小于10⁹Ω，其尺寸為：面積1cm²，厚度t不小于0.5mm。

　　測量時(shí)按圖4.5-32接好線(xiàn)路，將經(jīng)清潔干燥處理的試樣置于樣品架上，浸沒(méi)于絕緣油中，試樣與熱電偶應盡可能接近。對油槽加溫，使之按一定速率升溫，并進(jìn)行記錄。然后，從所得Q-T曲線(xiàn)，求取所需溫度點(diǎn)的曲線(xiàn)斜率，即為該溫度的熱釋電系數。

圖4.5-32積分電荷法熱釋電系數測試原理圖
 

　　1一冰點(diǎn)；2一測溫熱電偶；3一屏蔽溫度室；4一被測涂樣；5*緣保護層；6一積分電容；7一靜電計8一函數記錄儀；9一加熱器；10*緣油
 

　　熱釋電系數的計算可采用下式
 

　　式中，pm為熱釋電系數，C/(℃· m²)；C為積分電容值，F；A為試樣面積，m²；△T為溫度變化值，℃；△V為對應于△T的積分電容兩端電壓變化值，V。