產(chǎn)品名稱(chēng)：電弱點(diǎn)試驗儀

產(chǎn)品型號：HCRD-300

品牌：北京華測

一、依據標準：

IEC 60674-2:1988電氣用塑料薄膜規范 第2部分_試驗方法

GB/T 13542-92《電氣用塑料薄膜試驗方法》

二、適用范圍：

   主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測試。該系列產(chǎn)品的主要特點(diǎn)是能根據薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測試，測試寬度可根據用戶(hù)的要求而設定，無(wú)須將膜分切成小卷，免除了許多外來(lái)因素對測試結果的影響。測試數據能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。

三、設備優(yōu)點(diǎn)：

    該系列產(chǎn)品的主要元器件均選用品牌（如歐姆龍，美信，BB等），有效地保證了設備的可靠性、耐用性和穩定性。測量準確，復現性好。測試過(guò)程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。擊穿電流在0～40mA連續可調，復現性好。本機具備多重保護功能，充分考慮了操作人員及設備的性。如過(guò)壓、過(guò)流、接地保護，試驗平臺門(mén)開(kāi)啟保護。

四、測試原理：

       本測試儀試驗電壓是0－12kV交直流電壓，其波動(dòng)為±1%。測試儀在試樣弱點(diǎn)擊穿后約0.1s內使電壓回升到原來(lái)設定的電壓。銅輥為下電極，導電橡膠為上電極。薄膜以0-10m/min（可調）的速度移動(dòng)。遇弱點(diǎn)時(shí)擊穿，擊穿點(diǎn)自動(dòng)累積計數。膜移動(dòng)以平方數自動(dòng)計數。

五、技術(shù)參數:

1、試驗電壓：0-12kV （交直流）

  2、有效測量范圍：0～12kV

  3、控制系統：嵌入式工控機  

  4、電壓測量精度：±1%

  5、升壓方式：SPWM

  6、膜移動(dòng)速度： 0-10m/min 連續可調

  7、數據傳輸：2個(gè)USB接口

  8、保護電流：0～40mA

  9、樣品寬度： 60～600mm

  10、輸入電壓：220V

  11、功率：1KW

六、保護設計:

1、電源間斷保護：如果發(fā)生電源間斷，主控電器馬上跳閘，再次來(lái)電時(shí)系統自動(dòng)復位。

2、高壓倉開(kāi)門(mén)跳閘：無(wú)論在任何狀態(tài)，只要打開(kāi)高壓倉門(mén)，將使主控繼電器的線(xiàn)圈失電而跳閘。

3、電源保險線(xiàn)：當機內故障或試品擊穿后電子開(kāi)關(guān)未能及時(shí)動(dòng)作時(shí)，該熔絲自動(dòng)燒斷，切斷電源。

4、接地保護（主機后外板）：本機接地可防止機殼感應高壓，保護設備和人身。沒(méi)有接地不允許通電。

多防護：

該測試儀大都采用的光耦隔離方式，但光耦與隔離無(wú)非是提高儀器的采集的抗干擾處理,對于電弧放電過(guò)程中的浪涌對控制系統的防護起不到任何作用。
低通濾波電流監測技術(shù):

高電壓放電過(guò)程中將產(chǎn)生高頻信號。而無(wú)論是國產(chǎn)與電流采集傳感器，大都為工頻電流傳感器。而采集過(guò)程中無(wú)法將高頻信號處理時(shí)，從而造成檢測不準確。無(wú)論是采用磁通門(mén)或霍爾原理所設計的傳感器存在材料產(chǎn)生弱點(diǎn)后后瞬間輸出電壓或電流信號過(guò)大，從而燒壞控制系統的采集部分。華測開(kāi)發(fā)的低濾波電流采集傳感器將高頻雜波信號進(jìn)行相應處理。同時(shí)華測自主開(kāi)發(fā)的保護模塊來(lái)保證采集精度與保護采集元件.

雙系統互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù)：

電弱點(diǎn)測試儀器，華測生產(chǎn)的電弱點(diǎn)試驗設備不僅具備過(guò)壓、過(guò)流保護系統，它*的雙系統互鎖機制，當任何元器件出現問(wèn)題或單系統出現故障時(shí)，將瞬間切斷高壓。技術(shù)，。

電設備主要配置:

1、測試主機一臺

2、導電橡膠電極兩對

3、品牌計算機一臺

4、品牌打印機一臺

5、放電裝置一套

6、產(chǎn)品說(shuō)明書(shū)一份

7、產(chǎn)品合格證一份

電弱點(diǎn)測試儀器